,一台仪器能够智能进行一般粉末样品、液体样品、纳米资料、药品、半导体、薄膜样品测验。
1、X射线、测角仪为水平测角仪3、测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪
)(理学ZL)4、测角仪配程序式可变狭缝5、自动识别一切光学组件、样品台(理学ZL)6、CBO
7、小角散射测验组件(SAXS / Ultra SAXS)8、多用途薄膜测验组件9、微区测验组件、
13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,能够接纳直射X射线
X射线衍射仪SmartLab系列,能够大范围的应用于许多资料结构剖析的各个领域。
能够剖析的资料包含:金属资料、无机资料、复合资料、有机资料、纳米资料、超导资料能够剖析的资料状况包含:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
6. In-Plane设备能一起丈量样品笔直方向的结构及样品深度方向的结构