【48812】大塚纳米粒度及zeta电位仪ELSZ-neo-日本大塚电子-新品

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  电位和粒径测定之外还能进行分子量测定。为了更好的进步粒度散布的解析才能，选用了多散射视点测定。别的，也可完成丈量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶网状结构剖析等全新功用。

  电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，能够在生理盐水等高盐浓度环境下做丈量。3μL样品量就能测定粒径的超微量样品池也位列其间，然后扩展了生命科学范畴测验的各种可能性。此外还能够直接进行主动温度梯度丈量的蛋白质变性和相变温度剖析。

  ）广泛规模的粒径和ZETA电位丈量●通过多视点测定，可对应丈量分辩更高的粒径散布

  ●通过丈量凝胶样品在多个点的散射强度和分散系数，能够剖析凝胶的网络结构和不均匀性。

  的广泛温度规模内做丈量●通过温度的梯度机能，可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析

  十分适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学范畴的基础研讨和使用研讨，不只触及细小颗粒，还触及薄膜和平板外表的科学研讨。

  粘合剂）的涣散/集合控制，乳胶的外表改性（医药/工业）聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功用研讨

  ELSZ series很难丈量到所需成果。但现在，ELSZ series搭载的规范样品池的丈量规模扩展，可丈量稀溶液样品及至高浓度溶液样品，而且，通过选用FST法的高浓度样品池可丈量高浓度样品范畴的ZETA电位。

  C=0）外插的倒数求取分子量Mw,并以此初期梯度可求得第二维里系数A2.

  分子量籍由丈量不同散射视点（θ）的散射强度不但可进步测精度，也可获得分子分散目标的回转半径。以固定视点做丈量时，只需输入估测的回转半径，视点将自行补正，可丈量更高精度的分子量。

  A2=0时，代表溶剂为抱负溶剂，此刻温度被称为抱负温度，排挤与吸引力处于平衡状况，易发生结晶化。

  通过丈量凝胶样品在多个点的散射强度和分散系数，能够剖析凝胶的网络结构和不均匀性。

  电位的样品池新上台。新开发的高盐浓度涂层能够在高盐浓度环境（154Mm NaCL溶液）中做丈量。实再对生物相容性资料的评价。

  ELSZ-neo比较上一代ELSZ-2000选用了最新的变角散射技能，完成了粒径的多视点丈量（前方、侧方、后方）；别的通过静态光散射法ELSZ-neo能够核算溶液傍边粒子的浓度；新增的微流变学丈量功用能对聚合物和蛋白质等样品进行粘弹性剖析；通过丈量凝胶样品在多个点的散射强度和分散系数，能够剖析凝胶的网络结构和不均匀性。

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