激光粒度仪的测验原理及量程简介

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  光是一种电磁波，当光束行进过程中遇到颗粒时，将发生散射现象，散射光与光束初始传达方向构成一个夹角θ，散射角的巨细与颗粒的粒径相关，颗粒越大，发生的散射光的θ角就越小；颗粒越小，发生的散射光的θ角就越大。这样，丈量不同视点上的散射光的强度，就能够取得样品的粒度散布了。

  激光粒度分析仪是利用光的散射原理丈量粉颗粒巨细的，是一种当时粒度丈量范畴使用广泛的的粒度仪。其特点是丈量的动态规模宽、丈量速度快、操作快捷，特别合适丈量粒度散布规模宽的粉体和液体雾滴。激光粒度仪作为一种测验功能优异和适用范畴极广的粒度测验仪器，已经在其它粉体加工与使用范畴得到遍及的使用。

  跟着粉体技能的开展，对粒度分析仪的功能要求在逐渐的进步，特别是粒度仪的量程要求越来越宽。丈量下限要求到达几百乃至几十个纳米，丈量上限要求到达一千乃至几千微米。这对新式激光粒度仪规划者提出了大的应战。

  颗粒越细，散射光的视点越小，细小颗粒的散射光乃至在360度规模内都有散布。为了拓宽仪器的丈量下限。需求有非惯例的光学规划。

  无论是何种规划的激光粒度仪，都存在一个丈量窗口，样品在窗口中充沛涣散，被激光照耀，发生散射光。如上图所示，传统丈量窗口因为机械结构和光学玻璃存在全反射，总是存在一个散射光勘探盲区。这个盲区大致散布在75-105度、255-285度区域内。

  颗粒越小，散布在360度空间规模的散射光光强差越小，当颗粒小到必定极限，光强差将小得简直难以被分辩出来。这时就到了激光粒度仪的丈量下限了。图三是散射光光强矢量图。能够精确的看出，当颗粒小到某些特定的程度，光强矢量图无限挨近圆形(颗粒无限挨近圆心)，这时的光强差是难以分辩的。光学规划上的妨碍和散射光自身的特性决议了惯例激光粒度仪的丈量下限一般在0.2微米左右。

  当颗粒较大时，相同也会遇到技能困难。大颗粒的散射视点很小，不容易分辩和丈量。

  要想有用分辩大颗粒的光强散布。能够简略的拉长聚集镜头的焦距(例如500乃至1000毫米以上)，可是焦距大将导致激光粒度仪的体积大幅度的添加，且十分不便于小颗粒的大视点散射光勘探。一起对镜头的加工精度要求也会更高。这个技能难点使得惯例规划的激光粒度仪的线微米。