当前位置: 首页 > NG体育官方网站 > x射线衍射仪

WLP-208型平均粒度仪

发布时间:2024-07-03 来源:x射线衍射仪

  WLP-208型平均粒度测定仪(即费氏粒度仪)是一种利用空气透过法来测定各种粉末材料平均粒度的仪器,由于不受材料结团对测量的影响,测试的粒度重复性非常好。仪器结构相对比较简单、操作便捷,大范围的应用于硬质合金、磁性材料、化工材料等工业上。四十年来深受国内外用户好评,为了更好的提高仪器的精度和重复性,该仪器配备了yxq-200 型压力校正器一套。粉料压实力能控制,消除了人为操作误差,仪器备有两块读数板,可以适用不同

  WLP-208型平均粒度测定仪(即费氏粒度仪)是一种利用空气透过法来测定各种粉末材料平均粒度的仪器,由于不受材料结团对测量的影响,测试的粒度重复性非常好。仪器结构相对比较简单、操作便捷,大范围的应用于硬质合金、磁性材料、化工材料等工业上。四十年来深受国内外用户好评,为了更好的提高仪器的精度和重复性,该仪器配备了yxq-200型压力校正器一套。粉料压实力能控制,消除了人为操作误差,仪器备有两块读数板,可以适用不同孔隙度材料的测量。

  以上信息由企业自行提供,内容信息的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,仪表网对此不承担任何保证责任。

  温馨提示:为规避购买风险,建议您在买产品前务必确认供应商资质及产品质量。